征載流子的數(shù)量增大的影響較之遷移率減小的半導體電阻率變化的影響更為嚴重,導致內(nèi)量子效率下降,溫度升高又導致電阻率下降,使同樣IF下,VF降低。如果不用恒流源驅(qū)動LED,則VF降將促使IF指數(shù)式增加,這個過程將使LED PN 結(jié)上溫升更加快,最終溫升超過最大結(jié)溫,導致LED PN結(jié)失效,這是一個正反饋的惡性過程。 PN結(jié)上溫度升高,使半導體PN結(jié)中處于激發(fā)態(tài)的電子?空穴復(fù)合時從高能級向低能級躍遷時發(fā)射出光子的過程發(fā)生退化。這是由于PN結(jié)上溫度升高時,半導體晶格的振幅增大,使振動的能量也發(fā)生增加,當它超過一定值時,電子?空穴從激發(fā)態(tài)躍遷到基態(tài)時回與晶格原子(或離子)交換能量,于是成為無光子輻射的躍遷,LED的光學性能退化。
(審核編輯: Doris)
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